Laurine CUROS - Admise au titre de docteur

Doctorat Electronique

Thèse soutenue le 13 avril 2022 - Université de Bordeaux

Ecole doctorale : Sciences Physiques et de l'Ingénieur

Sujet : MODÉLISATION COMPORTEMENTALE DES EFFETSDE DESTRUCTION D’ALIMENTATIONSD’ÉQUIPEMENTS ÉLECTRONIQUES SOUMISES ÀDES IMPULSIONS ÉLECTRIQUES CONDUITES FORTSNIVEAUX

Mots-clés de la thèse : IEMN-HA,alimentation à découpage,destruction,défaillance de composant,modèle comportemental.,VHDL-AMS modélisation,

Direction de thèse : Jean-Michel VINASSA

Co-encadrement de thèse : Tristan DUBOIS

Co-encadrement de thèse : Frédéric PUYBARET

Unité de recherche : Laboratoire de l'Intégration du Matériau au Système UMR 5218 - Talence
Intitulé de l'équipe : Packaging, Assemblages et Compatibilité Électromagnétique (PACE)

Ingénieur - Institut polytechnique de Bordeaux, Ecole nationale supérieur d'électronique, informatique, télécommunications, mathématique et mécanique de Bordeaux

obtenu en septembre 2018 - Bordeaux INP - ENSEIRB-Matméca
Option : ELECTRONIQUE

Production scientifique

- L. Curos, T. Dubois, G. Mejecaze, F. Puybaret, B. Plano, J.-M. Vinassa 2020. Investigation of critical parameters in power supplies components failure due to electric pulse Microelectronics Reliability, ESREF MR,
- Guillaume Mejecaze, Laurine Curos, Tristan Dubois, Jean-Michel Vinassa, Frédéric Puybaret 2020. Modeling of a Current Injection System for Susceptibility Study IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, ,
- L. Curos, T. Dubois, G. Mejecaze, F. Puybaret, J.-M. Vinassa 2020. Modélisation de la susceptiblité des étages d’entrée d’alimentations lors de l’injection d’un fort courant Colloque International et Exposition sur la Compatibilité ÉlectroMagnétique , CEM,
- L. Curos, T. Dubois, G. Mejecaze, F. Puybaret, J.-M. Vinassa 2020. Susceptibility Modelling of Flyback SMPS Transformer Input Stage Under High Current Pulse Injection International Symposium on Electromagnetic Compatibility , EMC Europe,
- L. Curos, T. Dubois, G. Mejecaze, F. Puybaret, J.-M. Vinassa 2020. Susceptibility Modelling of SMPS Input Stage Under High Current Pulse Injection IEEE International Conference on Industrial Technology, ICIT,
- L. Curos , T. Dubois , G. Mejecaze , F. Puybaret , J.-M. Vinassa 2019. Analyses De Destructions D’alimentations Soumises A Des Impulsions Forts Niveaux, GDR ondes, vol,
- G. Mejecaze , T. Dubois , L. Curos , F. Puybaret , J.-M. Vinassa 2019. Destruction effects of high pulse electrical stress on power supplies, 2019 MicroElectronics Reability, Vol pp,

Langues Vivantes : Anglais B2 - Intermédiaire supérieur - Français C2 - Maternel - Catalan Maternel

Dernière mise à jour le 4 mars 2022