Collège Doctoral de l'Université de Grenoble

Objectifs :
Ce stage a pour but de favoriser l’accès des doctorants à la microscopie électronique à balayage et à la microanalyse X, qui sont deux techniques incontournables en caractérisation des matériaux. Il leur permettra d’acquérir les connaissances aussi bien théoriques que pratiques nécessaires à l’utilisation de ces techniques. A l’issue du stage, ils seront autonomes c’est à dire capables de travailler seuls sur un instrument et d'interpréter les résultats.

Programme :
Lundi 13 mars Salle C-ADM109 PHELMA CAMPUS

8h15-8h30 Présentation du stage L. MANIGUET

8h30 –10h30 Microscopie Electronique à Balayage conventionnelle
(MEB-W) et à effet de champ (MEB-FEG) : Les canons à électrons et les colonnes électroniques F. ROUSSEL 2h00

10h45-12h45 Base des interactions électrons-matière pour la microscopie F. CHARLOT 2h00

14h00-18h00
avec pause T.P.1 – Découverte du MEB et imagerie secondaire 4h00


Mardi 14 mars Salle C-ADM111 PHELMA CAMPUS

8h15-9h15 MEB-W et MEB-FEG : Résolution à haute et basse tension F. ROUSSEL 1h00

9h15-11h15 MEB-W et MEB-FEG : Les détecteurs d’électrons (SE, BSE, STEM), Automatismes et compensations L. MANIGUET 2h00

11h30-12h30 MEB-W et MEB-FEG à pression contrôlée F. ROUSSEL 1h00

14h00-18h00
avec pause T.P. 2 – Optimisation de l’image et imagerie rétrodiffusée. 4h00


Lundi 20 mars Salle C-ADM111 PHELMA CAMPUS

8h15-10h15 Bases physiques de la microanalyse par émission de rayons X F. ROBAUT 2h00

10h30-12h30 Spectrométrie X à sélection d’énergie (EDS) L. MANIGUET 2h00

14h00-18h00
avec pause T.P. 3 – Découverte du système d’analyse EDS et pratique de l’analyse qualitative 4h00




Mardi 21 mars Salle C-ADM111 PHELMA CAMPUS

8h15-10h15 Microanalyse X quantitative (principe et applications)

Les normes ISO dans le domaine de la microscopie électronique à balayage et analyses associées F. ROBAUT 2h00

10h30 – 11h30 EDS : choix des conditions opératoires à haute et basse tension F. CHARLOT 1h00

11h30-12h00 Cartographie X : principe et choix des conditions opératoires L. MANIGUET 0h30

14h00-18h00
avec pause T.P. 4 – Analyse quantitative par EDS et cartographie X 4h00


Mardi 28 mars Salle C-ADM111 PHELMA CAMPUS

8h15-9h45 Préparation d’échantillons durs
Polissage, Nettoyage, Métallisation F. CHARLOT
F. ROUSSEL 1h30

10h-11h30
cours au choix Apport de la spectrométrie à dispersion de longueur d’onde (WDS) en sciences des matériaux : aspects technologiques, applications aux éléments légers et aux couches minces

ou Introduction au traitement et à l’analyse d’images A. CRISCI



J.M. CHAIX 1h30

11h30-12h00 Bilan de stage

13h30-17h30
avec pause T.P. 5 – 2 Ateliers au choix :

 Analyse à dispersion de longueur d’onde WDS
 Analyse EBSD (principe et mise en œuvre de la technique, cas d’études)
 TP Imagerie Haute résolution et Mode VP et / ou EDS
 TP Microscopie environnementale Mode ESEM et platine Peltier
4h00

Equipe pédagogique :
NOM Prénom : ROUSSEL-DHERBEY Francine Laboratoire : CMTC Adresse électronique : francine.roussel-dherbey@cmtc.grenoble-inp.fr Téléphone : 04 76 82 66 02 NOM Prénom : CHARLOT Frédéric Laboratoire : CMTC Adresse électronique : frederic.charlot@cmtc.grenoble-inp.fr Téléphone : 04 76 82 66 19 NOM Prénom : ROBAUT Florence Laboratoire : SIMAP Adresse électronique : florence.robaut@simap.grenoble-inp.fr Téléphone : 04 76 82 66 12 NOM Prénom : CRISCI Alexandre Laboratoire : SIMaP Adresse électronique : alexandre.crisci@cmtc.grenoble-inp.fr Téléphone : 04 76 82 66 59 NOM Prénom : CHAIX Jean-Marc Laboratoire : SIMaP Adresse électronique : Jean-Marc.Chaix@simap.grenoble-inp.fr Téléphone : 04 76 82 66 16 NOM Prénom : DESCHANVRES Jean-Luc Laboratoire : LMGP Adresse électronique : jean-luc.deschanvres@inpg.fr Téléphone : 04 56 52 93 01 NOM Prénom : MARTIN Rachel Laboratoire : CMTC Adresse électronique : rachel.martin@cmtc.grenoble-inp.fr Téléphone :04 76 82 67 68 NOM Prénom : GELARD Isabelle Laboratoire : LMGP Adresse électronique : isabelle.gelard@grenoble-inp.fr Téléphone : 04.56.52.93.30