Contact : DANET Philippe ed-imep2@univ-grenoble-alpes.fr Tél: 04 57 42 25 34
Catégorie : Formations disciplinaires
Thématique : Formation à la recherche
Langue de l'intervention : français
Nombre d'heures : 19,5
Min participants : 12
Max participants : 30
Nbre d'inscrits : 20
Nombre de places disponibles : 10
Public prioritaire : Aucun
Public concerné : Doctorant(e)s
| Lieu : La formation aura lieu sur le campus de Saint-Martin d’Hères. Les salles seront communiquées ultérieurement Début de la formation : 24 avril 2023 Fin de la formation : 9 mai 2023 Date ouverture des inscriptions : Date fermeture des inscriptions : 16 avril 2023 Modalités d'inscription : Inscription obligatoire via votre laboratoire de rattachement : faire remonter votre demande à la direction de votre laboratoire qui transmettra la liste des personnes intéressées à :
laurent.maniguet@grenoble-inp.fr.
Participation financière Doctorant : OUI Montant demandé au doctorant : 100 &euro Objectifs : Ce stage a pour but de favoriser l’accès des doctorants à la microscopie électronique à balayage et à la microanalyse X, qui sont deux techniques incontournables en caractérisation des matériaux. Il leur permettra d’acquérir les connaissances théoriques nécessaires à l’utilisation de ces techniques. Programme : Lundi 24 avril
Salle à préciser
8h15-8h30
Présentation du stage
L. MANIGUET
8h30-9h00
Evaluation des connaissances (QCM)
9h00 –10h45
Microscopie Electronique à Balayage conventionnelle (MEB-W) et à effet de champ (MEB-FEG) : Les canons à électrons et les colonnes électroniques
F. ROUSSEL
1h45
11h00-12h45
Base des interactions électrons-matière pour la microscopie
F. CHARLOT
1h45
Mardi 25 avril
Salle à préciser
8h15-9h15
MEB-W et MEB-FEG : Résolution à haute et basse tension
F. ROUSSEL
1h00
9h15-11h15
MEB-W et MEB-FEG : Les détecteurs d’électrons (SE, BSE, STEM), Automatismes et compensations
L. MANIGUET
2h00
11h30-12h30
MEB-W et MEB-FEG à pression contrôlée
F. ROUSSEL
1h00
2
Mardi 2 mai Salle à préciser
8h15-10h15 Bases physiques de la microanalyse par émission de rayons X F. ROBAUT 2h00
10h30-12h30 Spectrométrie X à sélection d’énergie (EDS) L. MANIGUET 2h00
Jeudi 4 mai Salle à préciser
8h15-10h15 Microanalyse X quantitative (principe et applications)
Les normes ISO dans le domaine de la microscopie
électronique à balayage et analyses associées
F. ROBAUT 2h00
10h30 – 11h30 EDS : choix des conditions opératoires à haute et basse tension F. CHARLOT 1h00
11h30-12h00 Cartographie X : principe et choix des conditions opératoires L. MANIGUET 0h30
Mardi 9 mai Salle à préciser
8h15-9h45 Préparation d’échantillons durs : Polissage, Nettoyage F. CHARLOT
1h00
Préparation d’échantillons durs : Métallisation F. ROUSSEL 0h30
10h-11h30
Apport de la spectrométrie à dispersion de longueur d’onde
(WDS) mise en oeuvre au MEB et à la microsonde de Castaing
F. ROBAUT
1h30
11h30-12h00 Bilan de stage, évaluation des acquis (QCM)
Equipe pédagogique : MANIGUET Laurent (coordinateur)
ROUSSEL-DHERBEY Francine
CHARLOT Frédéric
ROBAUT Florence
CHAIX Jean-Marc
Méthode pédagogique : Langue du cours : Français
Méthode pédagogique : cours avec fourniture des documents pédagogiques
La formation participe à l'objectif suivant :conforter la culture scientifique des doctorants dans leur champ disciplinaire ou en interdisciplinaire
Calendrier :
Séance n° 1 Date : 24-04-2023
Séance n° 2 Date : 25-04-2023
Séance n° 3 Date : 02-05-2023
Séance n° 4 Date : 04-05-2023
Séance n° 5 Date : 09-05-2023
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